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應(yīng)用案例
半導體芯片測試
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紅外焦平面探測器性能參數(shù)測試系統(tǒng)



系統(tǒng)功能

1)依據(jù)國標GB/T 17444-2013,實現(xiàn)紅外焦平面探測器電光學參數(shù)測試

2)紅外焦平面實時成像、參數(shù)分析與圖像顯示

3)可用于紅外焦平面探測器研制過程中的性能評估及生產(chǎn)過程中的性能檢測

技術(shù)特點

1)極低噪聲驅(qū)動與采集系統(tǒng),滿足高靈敏度紅外探測器測試要求

2)模塊化設(shè)計,可靈活配置與升級

3)高速采集與信號處理能力,支持大面陣高幀頻紅外焦平面探測器實時測試評估

4)專業(yè)測試分析軟件,友好的圖形化操作界面

 


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